污點(diǎn)規(guī)，面積對(duì)比卡

• 更新日期：2025-01-11

點(diǎn)卡判定污點(diǎn),是用來測(cè)量、對(duì)比手機(jī)外殼、LENS、DISPLAY等部件的點(diǎn)、劃痕的面積、直徑、寬度、長(zhǎng)度是否超過基準(zhǔn).精度高.可根據(jù)客戶要求進(jìn)行定制

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